セラミックフォーラムでは、mi2-factory社によるフィルター式SiCイオン注入サービスを提供しています。
フィルター式SiCイオン注入とは、エネルギーフィルター(EFII) というシリコンの膜を用いることで、1回のイオン注入によって任意のドーピングプロファイルを形成する技術です。
SiCにおけるエピキタシー層のドーピング制御を高精度にコントロールすることができるため、ウエハ面内の濃度誤差は±1~2%以下に抑えられ、通常のエピキタシー装置によるドーピング制御よりも、精度と生産性を上げることが可能となります。
フィルタ式SiCイオン注入により、以下のベネフィトを得ることができます。
・チップのコスト削減:正確なドリフトゾーンのドーピング
・チップの性能向上:シリコンベースのHVデバイスの耐久性向上
・次世代のチップ構造の実現:SiC-Superjunction-MOSFET-Chip等